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元器件测量 RM3542, RM3542-01 (用于测量低电阻)

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  • 元器件测量 RM3542, RM3542-01 (用于测量低电阻)

  • RM3542, RM3542-01

  • Hioki

  • 2015-03-30 16:42

  • 2016-07-12 12:17

Product Description

元器件测量 RM3542, RM3542-01


实现了自动化系统中所要求的速度和高精度


双重检查功能保证准确接触,实现可靠性测试


可用于集成电路片电感器和EMC对应零件的低能耗电阻测量


可用于制造工程中手动的取样检查


 


单元中不包含试验夹具。请在购买时选择配套的试验夹具。


(预热时间:30分钟以上)


 

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