元器件测量仪器(电感、电容、电阻测量)

阻抗分析仪IM3570

1台仪器实现不同测量条件下的高速检查

1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查

LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量

基本精度±0.08%的高精度测量

适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量

分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量

主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。